高通骁龙第二代7+Gen2基准测试结果出炉

2023-03-21 14:40  |  来源:IT之家  |  编辑:叶知秋  |  阅读量:14855  |  

,高通于 3 月 17 日正式推出了第二代骁龙 7 + 移动平台,官方将其称为“骁龙史上最强 7 系平台”。国外科技媒体 hothardware 有幸在 MWC 2023 大展上,对该芯片进行了跑分测试,并制作了对比跑分图表。

高通本次展示的测试设备采用 6.65 英寸 1080p AMOLED 显示屏,刷新率为 144Hz,内存为 12GB,内置 4192mAh 容量电池。

IT之家分享该芯片在 GeekBench 跑分情况如下:

第二代骁龙 7 + 芯片在跑分中位于中间位置,单核成绩为 1211 分,多核成绩为 4005 分。这个跑分在单核上接近于搭载高通骁龙 8 Gen 1 的 Galaxy S22+和 Galaxy S22 Ultra(1237),但是在多核方面要超过上述两款机型。

安兔兔 8 :

安兔兔 AI 评测版本:

GFXBench T Rex Offscreen

GFXBench Manhattan Offscreen ES 3.0

GFXBench Aztec Ruins Vulkan Normal Offscreen

3DMark Wild Life Unlimited

骁龙 7+ Gen 2 几乎在每个方面都进行了升级,这不仅提高了 CPU、GPU、AI 和整体平台性能,而且还增强了功能。

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